中華人民共和國機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JB/T 6066--92
磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試塊
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1主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了磁粉探傷用B、E兩種標(biāo)準(zhǔn)試塊的技術(shù)要求,檢驗方法、檢驗規(guī)程,標(biāo)志、包裝和使用。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于磁粉探傷用B、E兩種環(huán)形標(biāo)準(zhǔn)試塊的產(chǎn)品質(zhì)量評定。
2引用標(biāo)準(zhǔn)
GB 230 金屬洛氏硬度試驗方法
GB 699 上等碳素結(jié)構(gòu)鋼技術(shù)條件
GB 1031 表面粗糙度 參數(shù)及其數(shù)值
GB 1299 合金工具鋼技術(shù)條件
GB 6394 金屬平均晶粒度測定方法
3技術(shù)要求
3.1形狀和尺寸
B型試塊的形狀和尺寸見圖1,E型試塊的形狀和尺寸見圖2。
孔號 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |
L | 1.78 | 3.56 | 5.34 | 7.11 | 8.89 | 10.67 | 12.45 | 14.22 | 16.00 | 17.78 | 19.56 | 21.34 |
圖 1 B型標(biāo)準(zhǔn)試塊
圖 2 E型標(biāo)準(zhǔn)試塊
3.2B型試塊的材料
B型試塊的材料應(yīng)符合GB1299的規(guī)定,經(jīng)退火處理的9CrWMn鋼鍛件,其硬度為90-95HRB,晶粒度不低于4級。
3.3E型試塊的材料
3.3.1外環(huán)材料應(yīng)符合GB 699規(guī)定的、經(jīng)退火處理的10鋼鍛件,晶粒度不低于4 級。
3.3.2內(nèi)環(huán)材料為具有一定耐熱、耐油、抗變形、易切削性能的非金屬材料。如:有機(jī)玻璃、硬質(zhì)聚氯乙烯等。
3.3.3芯棒材料為銅或鋁合金。
4檢驗規(guī)則和檢驗方法
4.1原材料的檢驗
4.1.1原材料的檢驗項目公限于B型試塊和E型試塊的外環(huán)。
4.1.2原材料的化學(xué)分析
4.1.2.1 在同一爐號(或批號)的原材料中應(yīng)至少取出一份樣品進(jìn)行化學(xué)分析。用于B型試塊的原材料其分析結(jié)果應(yīng)符合GB1299的規(guī)定,用于E型試塊外環(huán)的原材料,其分析結(jié)果應(yīng)符合GB699的規(guī)定。
4.1.2.2 如果以上任一份樣品的分析結(jié)果不符合規(guī)定要求,允許重新取出三份或三份以上的補(bǔ)充樣品進(jìn)行化學(xué)分析,補(bǔ)充樣品中只要有一份樣品不符合規(guī)定要求,則不允許使用該爐號(或批號)的原材料制造試塊。
4.1.3原材料的晶粒度和硬度測定
4.1.3.1 晶粒度的測定和硬度的測定均在原材料經(jīng)過鍛打和退火處理之后進(jìn)行。
4.1.3.2 硬度的測定僅適用于B型試塊的原材料。
4.1.3.3 在同一批經(jīng)過退火處理的原材料中應(yīng)至少取出一份樣品測其晶粒度和硬度。晶粒度的等級評定按照GB 6394的規(guī)定進(jìn)行。硬度的測定按照GB230的規(guī)定進(jìn)行。
4.1.3..4 如果一次測定結(jié)果不合格,允許重新取樣進(jìn)行**次測定,但應(yīng)至少取出三份樣品,并且只要其中有一份樣品的測定結(jié)果不合格,則必須重新進(jìn)行有關(guān)的工藝處理,使其達(dá)到合格。
4.1.3.5 為使晶粒度和硬度達(dá)到技術(shù)要求,其工藝處理*多只允許重復(fù)一次。
4.2B型試塊的出廠檢驗
4.2.1檢驗項目、檢驗方法、檢驗要求見表1。
表 1
檢驗項目 | 檢 驗 方 法 | 檢驗要求 |
試塊內(nèi)徑和外徑 | 用游標(biāo)卡尺或者專用的卡規(guī)和塞規(guī)檢驗 | 應(yīng) |
試塊厚度 | 用千分尺或者百分表檢驗 | 符 |
Φ1.78通孔直徑 | 用標(biāo)準(zhǔn)塞規(guī)檢驗 | 合 |
Φ1.78通孔位置 | 用投影儀或者將長度不小于44mm的塞規(guī)插入通孔中,利用塞規(guī)的外圓作基準(zhǔn)進(jìn)行檢驗 | 圖 一 |
Φ1.78通孔 垂直度 | 將長度不小于44mm的塞規(guī)插入通孔中,利用塞規(guī)的外圓作基準(zhǔn)進(jìn)行檢驗 | 的 規(guī) |
表面粗糙度 | 用符合GB1031要求的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度樣塊進(jìn)行對比檢驗 | 定 |
注: 不排除使用其他有效方法進(jìn)行檢驗.
4.2.2檢驗不合格的試塊不得進(jìn)入成品庫,更不允許通過任何渠道流入無損探傷的商品市場。
4.3E型試塊的出廠檢驗
4.3.1外環(huán)的檢驗
4.3.1.1外環(huán)的檢驗項目、檢驗方法、檢驗要求按表2。
4.3.1.2 檢驗不合格的外環(huán)不得進(jìn)入成品庫,更不允許通過任何渠道流入無損探傷的商品市場。
4.3.2內(nèi)環(huán)和導(dǎo)電芯棒的檢驗
4.3.2.1 內(nèi)環(huán)的檢驗項目為內(nèi)徑、外徑和長度,導(dǎo)電芯棒的檢驗項目為直徑和長度。
4.3.2.2 內(nèi)環(huán)的內(nèi)徑用專門的塞規(guī)檢驗,外徑用千分尺或者專門的卡規(guī)檢驗,長度用普通直尺或?qū)Ｓ玫目ㄒ?guī)檢驗。
4.3.2.3 導(dǎo)電芯棒的直徑用千分尺或者專門的卡規(guī)檢驗,長度用普通直尺或者專用的卡規(guī)檢驗。
4.3.2.4 根據(jù)第4.3.2.2條和4.3.2.3條檢驗的結(jié)果都應(yīng)當(dāng)符合圖2的規(guī)定。檢驗不合格的內(nèi)環(huán)和芯棒允許結(jié)合第4.4.2條規(guī)定酌情回收利用。
4.4B型試塊組裝后的檢驗
4.4.1主要檢驗項目
a. 內(nèi)、外環(huán)是否位于導(dǎo)電芯棒的中間位置。
b. 外環(huán)和內(nèi)環(huán)之間,內(nèi)環(huán)和芯棒之間是否符合緊配合要求。
4.4.2如果外環(huán)和內(nèi)環(huán)之間或內(nèi)環(huán)與芯棒之間只有一個配合不緊密,并且間隙不大于0.05mm,允許采用加墊紫銅箔或者使用粘接劑的方法使其達(dá)到緊配合。
4.5型式檢驗
4.5.1在下述情況時,應(yīng)進(jìn)行型式檢驗;
a. 試制定型鑒定時;
b. 正式生產(chǎn)后,工藝有較大改變時;
c. 正常生產(chǎn)中,每個生產(chǎn)周期的初始階段(例如每隔半年進(jìn)行一次型式檢驗);
d. 產(chǎn)品長期停產(chǎn)后,恢復(fù)生產(chǎn)時;
e. 國家質(zhì)量監(jiān)督機(jī)構(gòu)提出型式檢驗要求時。
4.5.2B型試塊的型式檢驗項目包括表1所列的全部項目和第4.1條所規(guī)定的原材料檢驗項目。
4.5.3E型試塊的型式檢驗項目包括表2所列的全部項目和第4.1條所規(guī)定的原材料檢驗項目。
4.5.4型式檢驗的試樣為出廠檢驗合格的產(chǎn)品試塊,任選三塊,在每塊試塊上都必須完成第4.5.2條和4.5.3條中規(guī)定的檢驗項目。
4.5.5對原屬原材料的檢驗項目(如化學(xué)成分、晶粒度、硬度),在型式檢驗時改在被檢試塊上進(jìn)行。
4.5.6型式檢驗不合格時,應(yīng)對試塊的生產(chǎn)進(jìn)行必要的整頓。
4.6購到試塊的用戶,有權(quán)對試塊的各項技術(shù)要求進(jìn)行復(fù)驗,如果復(fù)驗后能拿出充足證據(jù)說明試塊不符合技術(shù)要求,在購到試塊后的3個月內(nèi),或者在合同的有效期內(nèi),制造單位應(yīng)接受用戶的更換或者退貨要求。
表 2
檢驗項目 | 檢 驗 方 法 | 檢驗要求 |
試塊內(nèi)徑 | 用專用的塞規(guī)檢驗 | |
試塊外徑 | 用千分尺或者專用的卡規(guī)檢驗 | 應(yīng) |
外圓同心度 | 用百分表在標(biāo)準(zhǔn)平臺上檢驗 | 符 |
試塊長度 | 用游標(biāo)卡尺或者專用卡尺檢驗 | 合 |
Φ1通孔直徑 | 用塞規(guī)檢驗 | 圖 |
Φ1通孔夾角 | 用萬能角度儀檢驗 | 二 |
Φ1通孔位置 | 用投影儀或者將長度不小于25mm的塞規(guī)插入通孔中,利用塞規(guī)外圓作為基準(zhǔn)進(jìn)行檢驗 | 的 |
Φ1通孔 垂直度 | 將長度不小于25mm的塞規(guī)插入通孔中,利用塞規(guī)外圓作為基準(zhǔn)進(jìn)行檢驗 | 規(guī) |
表面粗糙度 | 用符合GB1031規(guī)定的粗糙度樣塊進(jìn)行對比檢驗 | 定 |
注: 不排除使用其他有效方法進(jìn)行檢驗.
5標(biāo)志和包裝
5.1標(biāo)志
5.1.1試塊上應(yīng)具有下述長久性標(biāo)記:
a. 制造單位的名稱或商標(biāo);
b. 試塊的出廠編號。
5.1.2B型試塊上的長久標(biāo)記們于試塊的端平面上,可以集中在某一個端平面上,也可以分散于兩端平面上,但是不得有礙于φ1.78通孔。
5.1.3E型試塊上的長久標(biāo)記位于內(nèi)環(huán)上未被外環(huán)蔗住的圓柱或端平面上,可以集中在一端,也可以分散于兩湍。
5.1.4制造單位的名稱可以是全稱、簡稱或者縮寫字母。
5.2包裝
5.2.1可采用木盒或其他包裝盒進(jìn)行包裝。
5.2.2B型試塊在包裝前應(yīng)把整個表面涂上防銹油,E型試塊在包裝前應(yīng)至少把外表面涂上防銹油。
5.2.3包裝盒內(nèi)應(yīng)隨帶產(chǎn)品合格證和產(chǎn)品說明書。合格證上應(yīng)標(biāo)明產(chǎn)品名稱、出廠日期和檢驗人員代號。
6使用注意事項
6.1試塊使用前應(yīng)當(dāng)用浸有煤油等溶劑的棉球?qū)⒎冷P油擦凈。
6.2B型試塊適用于磁化電流為直流電和整流電的探傷,使用前應(yīng)進(jìn)行退磁,使用時要用一根直徑為29±1mm、長度不小于400mm的銅棒或鋁合金棒插入試塊內(nèi)孔作為導(dǎo)電芯棒。
6.3E型試塊適用于磁化電流為交流電的探傷,允許在不退磁的情況下使用。
6.4試塊用畢后應(yīng)參照第5.2.2條的規(guī)定涂上防銹油置于包裝盒內(nèi)貯放。B型試塊還應(yīng)當(dāng)在涂防銹油之前進(jìn)行退磁處理。
6.5當(dāng)試塊表面出現(xiàn)銹斑時,應(yīng)及時用防銹劑或細(xì)砂紙將其去除。
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附加說明:
本標(biāo)準(zhǔn)由國內(nèi)無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械電子工業(yè)部上海材料研究所歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)由航空航天部六二一所、機(jī)械電子工業(yè)部上海材料研究所負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人傅洋、徐立賢。
機(jī)械電子工業(yè)部1992-05-05批準(zhǔn) 1993-07-01實(shí)施
