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渦流涂層測厚技術(shù)的基本原理和標準

渦流涂層測厚技術(shù)的基本原理和標準

渦流涂層測厚技術(shù)的基本原理
現(xiàn)代工程材料開發(fā)與應(yīng)用實踐表明，鋁、銅、鋅等各種有色金屬材料及其合金材料在航空、建材、冶金、輕工、機械、儀表、化工等行業(yè)的廣泛應(yīng)用，往往都需借助氧化膜、油漆、噴塑、橡膠等表面覆蓋層的防腐保護，延長其使用壽命。應(yīng)用電渦流技術(shù)開發(fā)的渦流涂鍍層測厚儀，則是無損測量上列非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的有效手段。
渦流涂層測厚儀的基本工作原理是：當(dāng)測頭與被測試樣接觸時，測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場，使置于測頭下面的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與測頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)，即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場會改變測頭參數(shù)，而測頭參數(shù)變量的大小則取決于涂鍍層的厚度。通過測量測頭參數(shù)變量的大小，并將這一電信號轉(zhuǎn)換處理，即可得到被測涂鍍層的厚度值。

渦流涂層測厚方法標準概況
在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中，對渦流測厚儀的標準、操作程序和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡述。其中有關(guān)影響測量精度因素的條款，應(yīng)視作渦流涂鍍層測厚儀開發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件，這些影響測量精度的主要因素包括：
1、覆蓋層厚度大于25μm時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2、基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度，只有大于這個厚度，測量才不會受基體金屬厚度的影響。
　　 4、渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應(yīng)，即對靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的。
5、試樣的曲率對測量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精度，粗糙程度增加，影響增大。
7、渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測量前應(yīng)**測頭和覆蓋層表面的污物，測量時應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。
以上各項要點，既嚴格規(guī)范了顧客實施測厚全過程的工作質(zhì)量，又為生產(chǎn)廠商提供了儀器開發(fā)必須遵循的設(shè)計依據(jù)，因而有力地促進了渦流測厚技術(shù)的總體發(fā)展。

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