中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JB 5441－91
壓縮機(jī)鑄鋼零件的超聲波探傷
1 主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)鑄鋼零件（以下簡(jiǎn)稱工件）和其他類似鑄件的超聲波探傷。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于奧氏體不銹鋼等粗晶材料鋼鑄件的超聲波探傷。
2 引用標(biāo)準(zhǔn)
GB 7233 鑄鋼件超聲探傷方法及質(zhì)量評(píng)級(jí)方法
ZBY 230 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
ZB J04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法
JB 3111 無損檢測(cè)名詞術(shù)語(yǔ)
3 術(shù)語(yǔ)
3.1 平面型缺陷
采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法，檢測(cè)一個(gè)缺陷，如果只能測(cè)出其兩維尺寸，則稱為平面型缺陷。
3.2 非平面型缺陷
采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法，檢測(cè)一個(gè)缺陷，如果能測(cè)出其三維尺寸，則稱為非平面型缺陷。
3.3 本標(biāo)準(zhǔn)其他術(shù)語(yǔ)符合JB3111和GB7233的規(guī)定。
4 探傷人員
壓縮機(jī)鑄鋼零件探傷應(yīng)由具有一定基礎(chǔ)知識(shí)和鑄件探傷經(jīng)驗(yàn)，并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書者擔(dān)任。
5 探傷器材
5.1探傷儀
5.1.1采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。
5.1.2儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。
5.1.3儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZBY 230的有關(guān)規(guī)定。
5.2 探頭
5.2.1縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率為1~5MHz，頻率誤差為±10%。
5.2.2橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm2，K值一般取1~3。
5.2.3縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。
5.3 儀器系統(tǒng)的性能
儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按ZBJ 04 001的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
5.3.1在工作頻率下，縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB，橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A（補(bǔ)充件）A1.2條的規(guī)定。
5.3.2在工作頻率下，縱波直探頭的分辨力不得低于20dB，橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB。
5.4 試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊用鑄造碳鋼或低合金鋼材料制作，其透聲性應(yīng)與被檢鑄鋼件相同或相近，不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。也可用鍛鋼件試塊，通過透聲補(bǔ)償進(jìn)行替代。
5.4.1 縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.1.1 工件探測(cè)距離大于等于1.6倍近場(chǎng)區(qū)，應(yīng)采用縱波直探頭。
5.4.1.2 縱波直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按圖1和表1。
表1 mm
高度H | 45 | 75 | 95 | 120 | 170 | 220 |
直徑D | 50 | 60 | 80 |
圖1
5.4.2 縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.2.1 工件探測(cè)距離小于1.6倍近場(chǎng)區(qū)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭。
5.4.2.2 縱波雙晶直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊形狀和尺寸按圖2和表2。
圖2
表2 mm
序號(hào) | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
探測(cè)距離L | 5 | 10 | 15 | 20 | 25 | 30 | 35 | 40 | 45 |
5.4.3橫波斜探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)按附錄A中A1.3條及圖A1的規(guī)定。
5.4.4探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。
圖3
5.5 耦合劑
可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。
6 探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作
6.1探傷原則上應(yīng)安排在*終處理后進(jìn)行，若因熱處理后鑄件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。
6.2 鑄鋼件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲檢測(cè)的物質(zhì)都應(yīng)予以**。
6.3 探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Rn3.2μm。
7 探傷方法
工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測(cè)，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。
7.1 探測(cè)方向
7.1.1 原則上應(yīng)從探測(cè)面上兩相互垂直的方向進(jìn)行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。
7.1.2 主要工件的探測(cè)方向如圖4所示。
圖4
7.2 掃查
7.2.1應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測(cè)面進(jìn)行**連續(xù)的掃查，相鄰兩次掃查其重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。
7.2.2掃查時(shí)，探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。
7.2.3 因工件幾何形狀所限而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。
7.3 透聲性的測(cè)定
將縱波直探頭與工件上探測(cè)面和底面平行而且無缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使**次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使**次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測(cè)量點(diǎn)的透聲性。測(cè)量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。
7.4 探傷靈敏度的確定
7.4.1縱波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整
首先，將工件與探測(cè)距離等于或*接近該工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值，然后在該試塊上測(cè)試，使其φ4mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%。不改變儀器的參數(shù)，對(duì)探測(cè)距離較小的一系列試塊逐一測(cè)試，測(cè)出其平底孔回波的*高點(diǎn)，繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線，也可用A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。
7.4.2 縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整
測(cè)試一組不同探測(cè)距離的φ4mm平底孔、調(diào)整衰減器，使其中*高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)。對(duì)探測(cè)距離不同的平底孔逐一測(cè)試，將其回波幅度的*高點(diǎn)繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線。
7.4.3 補(bǔ)償
7.4.3.1 表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。
7.4.3.2 透聲性補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷當(dāng)量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。
7.4.3.3 曲面補(bǔ)償：對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來校正，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。
7.4.4探測(cè)靈敏度不得低于*大探測(cè)距離處的φ4mm平底孔當(dāng)量。
7.5 探傷靈敏度的復(fù)查
探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新當(dāng)量。
8 缺陷檢測(cè)
8.1 記錄缺陷
8.1.1 反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。
8.1.2 在探傷靈敏度下，引起工件**次底面回波消失的缺陷。
8.1.3 出現(xiàn)平面型缺陷顯示，并被探傷人員判定為危害性的缺陷。
8.2 缺陷尺寸的測(cè)定
8.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，用6dB法在探傷面上畫出缺陷的范圍。其在工件厚度方向的尺寸，可由不同方向檢測(cè)所確定的缺陷上部和下部邊界確定。
8.2.2 凡是因存在缺陷，而使底面回波消失者，其邊緣應(yīng)從探測(cè)面上底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波*左側(cè)的波峰位置確定。
8.2.3 當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí)，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測(cè)計(jì)。
8.2.4 單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的*大尺寸與其在垂直方向的*大尺寸之積計(jì)算。
8.2.5 對(duì)于有疑問的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來進(jìn)行驗(yàn)證。
9 缺陷等級(jí)分類
9.1 在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)不允許存在裂紋和縮孔。
9.2 缺陷在工件厚度方向的尺寸不得大于壁厚的1/8。
9.3 缺陷所在截面積指探測(cè)到缺陷部位的*小剖截面積；對(duì)于空心軸工件，其截面積應(yīng)按實(shí)心軸計(jì)算。
9.4 工件的單個(gè)缺陷等級(jí)分類按表3規(guī)定；面積類缺陷等級(jí)分類按表4規(guī)定。
表3 mm
等 級(jí) | 1 | 2 | 3 | 4 |
缺陷當(dāng)量直徑 | ＜4 | ≥4~<5 | ≥5~<6 | ≥9 |
表4 mm
等 級(jí) | 超過振幅參考線的缺陷 | 底波消失類缺陷 |
1 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的5％ |
2 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的10％ |
3 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的15％ |
4 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的20％ |
5 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的25％ |
6 | 缺陷面積大于缺陷所在截面積的25％ |
10 探傷報(bào)告
探傷報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容：
a.委托探傷的單位，探傷報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期；
b.鑄鋼件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)、熱處理狀態(tài)、探傷面的表面粗糙度、透聲性、工件尺寸草圖；
c.超探儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度；
d.在草圖上，標(biāo)明檢測(cè)區(qū)域。如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位，也必須在草圖上標(biāo)明；
e.缺陷的類型、尺寸和位置；
f.缺陷等級(jí)和探傷結(jié)論；
g.探傷人員和審核人員簽字。探傷人員的資格證書、等級(jí)、姓名和探傷日期。
附錄A
橫波檢驗(yàn)
（補(bǔ)充件）
A 1 檢測(cè)設(shè)備
A 1.1儀器和探頭的性能應(yīng)符合5.1條、5.2條及5.3條的要求。
A 1.2儀器和探頭的組合靈敏度余量在達(dá)到所探工件*大檢測(cè)聲程時(shí)不得低于10dB。
A 1.3校正試塊的形狀和尺寸按圖A1和表A1。
表A1 mm
材料公稱厚度 | 校正試塊厚度 T | 孔 徑 φ |
≤25 | 25 | 2.5 |
＞25~50 | 50 | 3.0 |
<50~100 | 100 | 5.0 |
>100~150 | 150 | 6.0 |
>150~200 | 200 | 8.0 |
A 2 距離－幅度曲線的制作
利用圖A1所示的基本校正試塊，采用斜探頭，探測(cè)試塊深度位置分別為T/4、T/2、3T/4的橫孔，并在熒光屏上分別標(biāo)計(jì)各個(gè)波幅點(diǎn)，連接這些點(diǎn)就得到距離－幅度曲線。
圖A1
A 3 掃查
橫波斜探頭探傷至少要沿探傷面上相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行掃查。在掃查的同時(shí)，應(yīng)不斷偏轉(zhuǎn)探頭，偏轉(zhuǎn)角度不得少于15°。
A 4 缺陷記錄
A 4.1 記錄回波幅度超過距離－幅度曲線的缺陷。
A 4.2 探傷人員認(rèn)為有必要記錄的危害性缺陷。
A 5 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。
A 6 探傷報(bào)告
探傷報(bào)告應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)第10條的規(guī)定。
附加說明：
本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)內(nèi)壓縮機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械電子工業(yè)部合肥通用機(jī)械研究所歸口并負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁榕。
機(jī)械電子工業(yè)部1991-07-22批準(zhǔn)
1992-07-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JB 5441－91
壓縮機(jī)鑄鋼零件的超聲波探傷
1 主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級(jí)分類。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)鑄鋼零件（以下簡(jiǎn)稱工件）和其他類似鑄件的超聲波探傷。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用于奧氏體不銹鋼等粗晶材料鋼鑄件的超聲波探傷。
2 引用標(biāo)準(zhǔn)
GB7233 鑄鋼件超聲探傷方法及質(zhì)量評(píng)級(jí)方法
ZBY230 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
ZBJ04001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法
JB3111 無損檢測(cè)名詞術(shù)語(yǔ)
3 術(shù)語(yǔ)
3.1 平面型缺陷
采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法，檢測(cè)一個(gè)缺陷，如果只能測(cè)出其兩維尺寸，則稱為平面型缺陷。
3.2 非平面型缺陷
采用本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法，檢測(cè)一個(gè)缺陷，如果能測(cè)出其三維尺寸，則稱為非平面型缺陷。
3.3 本標(biāo)準(zhǔn)其他術(shù)語(yǔ)符合JB3111和GB7233的規(guī)定。
4 探傷人員
壓縮機(jī)鑄鋼零件探傷應(yīng)由具有一定基礎(chǔ)知識(shí)和鑄件探傷經(jīng)驗(yàn)，并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書者擔(dān)任。
5 探傷器材
5.1探傷儀
5.1.1 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。
5.1.2 儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。
5.1.3 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZBY 230的有關(guān)規(guī)定。
5.2 探頭
5.2.1 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率為1~5MHz，頻率誤差為±10%。
5.2.2 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm2，K值一般取1~3。
5.2.3 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。
5.3 儀器系統(tǒng)的性能
儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按ZBJ 04 001的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
5.3.1 在工作頻率下，縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB，橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A（補(bǔ)充件）A1.2條的規(guī)定。
5.3.2 在工作頻率下，縱波直探頭的分辨力不得低于20dB，橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB。
5.4 試塊
標(biāo)準(zhǔn)試塊用鑄造碳鋼或低合金鋼材料制作，其透聲性應(yīng)與被檢鑄鋼件相同或相近，不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。也可用鍛鋼件試塊，通過透聲補(bǔ)償進(jìn)行替代。
5.4.1 縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.1.1 工件探測(cè)距離大于等于1.6倍近場(chǎng)區(qū)，應(yīng)采用縱波直探頭。
5.4.1.2 縱波直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸按圖1和表1。
表1 mm
高度H | 45 | 75 | 95 | 120 | 170 | 220 |
直徑D | 50 | 60 | 80 |
圖1
5.4.2 縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊
5.4.2.1 工件探測(cè)距離小于1.6倍近場(chǎng)區(qū)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭。
5.4.2.2 縱波雙晶直探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊形狀和尺寸按圖2和表2。
圖2
表2 mm
序號(hào) | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
探測(cè)距離L | 5 | 10 | 15 | 20 | 25 | 30 | 35 | 40 | 45 |
5.4.3 橫波斜探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)按附錄A中A1.3條及圖A1的規(guī)定。
5.4.4 探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。
圖3
5.5 耦合劑
可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。
6 探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作
6.1探傷原則上應(yīng)安排在*終處理后進(jìn)行，若因熱處理后鑄件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。
6.2 鑄鋼件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲檢測(cè)的物質(zhì)都應(yīng)予以**。
6.3 探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Rn3.2μm。
7 探傷方法
工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測(cè)，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。
7.1 探測(cè)方向
7.1.1 原則上應(yīng)從探測(cè)面上兩相互垂直的方向進(jìn)行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。
7.1.2 主要工件的探測(cè)方向如圖4所示。
圖4
7.2 掃查
7.2.1 應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測(cè)面進(jìn)行**連續(xù)的掃查，相鄰兩次掃查其重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。
7.2.2 掃查時(shí)，探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。
7.2.3 因工件幾何形狀所限而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。
7.3 透聲性的測(cè)定
將縱波直探頭與工件上探測(cè)面和底面平行而且無缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使**次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使**次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測(cè)量點(diǎn)的透聲性。測(cè)量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。
7.4 探傷靈敏度的確定
7.4.1 縱波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整
首先，將工件與探測(cè)距離等于或*接近該工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值，然后在該試塊上測(cè)試，使其φ4mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%。不改變儀器的參數(shù)，對(duì)探測(cè)距離較小的一系列試塊逐一測(cè)試，測(cè)出其平底孔回波的*高點(diǎn)，繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線，也可用A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。
7.4.2 縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整
測(cè)試一組不同探測(cè)距離的φ4mm平底孔、調(diào)整衰減器，使其中*高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)。對(duì)探測(cè)距離不同的平底孔逐一測(cè)試，將其回波幅度的*高點(diǎn)繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線。
7.4.3 補(bǔ)償
7.4.3.1 表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。
7.4.3.2 透聲性補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷當(dāng)量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。
7.4.3.3 曲面補(bǔ)償：對(duì)于探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來校正，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。
7.4.4 探測(cè)靈敏度不得低于*大探測(cè)距離處的φ4mm平底孔當(dāng)量。
7.5 探傷靈敏度的復(fù)查
探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新當(dāng)量。
8 缺陷檢測(cè)
8.1 記錄缺陷
8.1.1 反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。
8.1.2 在探傷靈敏度下，引起工件**次底面回波消失的缺陷。
8.1.3 出現(xiàn)平面型缺陷顯示，并被探傷人員判定為危害性的缺陷。
8.2 缺陷尺寸的測(cè)定
8.2.1 當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，用6dB法在探傷面上畫出缺陷的范圍。其在工件厚度方向的尺寸，可由不同方向檢測(cè)所確定的缺陷上部和下部邊界確定。
8.2.2 凡是因存在缺陷，而使底面回波消失者，其邊緣應(yīng)從探測(cè)面上底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波*左側(cè)的波峰位置確定。
8.2.3 當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí)，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測(cè)計(jì)。
8.2.4 單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的*大尺寸與其在垂直方向的*大尺寸之積計(jì)算。
8.2.5 對(duì)于有疑問的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來進(jìn)行驗(yàn)證。
9 缺陷等級(jí)分類
9.1 在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)不允許存在裂紋和縮孔。
9.2 缺陷在工件厚度方向的尺寸不得大于壁厚的1/8。
9.3 缺陷所在截面積指探測(cè)到缺陷部位的*小剖截面積；對(duì)于空心軸工件，其截面積應(yīng)按實(shí)心軸計(jì)算。
9.4 工件的單個(gè)缺陷等級(jí)分類按表3規(guī)定；面積類缺陷等級(jí)分類按表4規(guī)定。
表3 mm
等 級(jí) | 1 | 2 | 3 | 4 |
缺陷當(dāng)量直徑 | ＜4 | ≥4~<5 | ≥5~<6 | ≥9 |
表4 mm
等 級(jí) | 超過振幅參考線的缺陷 | 底波消失類缺陷 |
1 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的5％ |
2 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的10％ |
3 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的15％ |
4 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的20％ |
5 | 缺陷面積小于等于缺陷所在截面積的25％ |
6 | 缺陷面積大于缺陷所在截面積的25％ |
10 探傷報(bào)告
探傷報(bào)告應(yīng)包括以下內(nèi)容：
a.委托探傷的單位，探傷報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期；
b.鑄鋼件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)、熱處理狀態(tài)、探傷面的表面粗糙度、透聲性、工件尺寸草圖；
c.超探儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度；
d.在草圖上，標(biāo)明檢測(cè)區(qū)域。如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位，也必須在草圖上標(biāo)明；
e.缺陷的類型、尺寸和位置；
f.缺陷等級(jí)和探傷結(jié)論；
g.探傷人員和審核人員簽字。探傷人員的資格證書、等級(jí)、姓名和探傷日期。
附錄A
橫波檢驗(yàn)
（補(bǔ)充件）
A 1 檢測(cè)設(shè)備
A1.1 儀器和探頭的性能應(yīng)符合5.1條、5.2條及5.3條的要求。
A1.2 儀器和探頭的組合靈敏度余量在達(dá)到所探工件*大檢測(cè)聲程時(shí)不得低于10dB。
A1.3 校正試塊的形狀和尺寸按圖A1和表A1。
表A1 mm
材料公稱厚度 | 校正試塊厚度 T | 孔 徑 φ |
≤25 | 25 | 2.5 |
＞25~50 | 50 | 3.0 |
<50~100 | 100 | 5.0 |
>100~150 | 150 | 6.0 |
>150~200 | 200 | 8.0 |
A 2 距離－幅度曲線的制作
利用圖A1所示的基本校正試塊，采用斜探頭，探測(cè)試塊深度位置分別為T/4、T/2、3T/4的橫孔，并在熒光屏上分別標(biāo)計(jì)各個(gè)波幅點(diǎn)，連接這些點(diǎn)就得到距離－幅度曲線。
圖A1
A 3 掃查
橫波斜探頭探傷至少要沿探傷面上相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行掃查。在掃查的同時(shí)，應(yīng)不斷偏轉(zhuǎn)探頭，偏轉(zhuǎn)角度不得少于15°。
A 4 缺陷記錄
A4.1 記錄回波幅度超過距離－幅度曲線的缺陷。
A4.2 探傷人員認(rèn)為有必要記錄的危害性缺陷。
A 5 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。
A 6 探傷報(bào)告
探傷報(bào)告應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)第10條的規(guī)定。
附加說明：
本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)內(nèi)壓縮機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械電子工業(yè)部合肥通用機(jī)械研究所歸口并負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人袁榕。
機(jī)械電子工業(yè)部1991-07-22批準(zhǔn)
1992-07-01實(shí)施
