中華人民共和國機械工業(yè)部部標準
JB 1582-85 代替JB1582-75
本標準適用于JB1266-72《電站汽輪機和船用汽輪機葉輪鍛件技術(shù)條件》中各類葉輪鍛件的超聲探傷。其它**狀鍛件可參考使用。
1應用前提
1.1 本標準采用2~2.5MHz的探測頻率，按脈沖反射式原理，在葉輪鍛件的全端面上（即輪殼、輪腹、輪緣的兩個端平面上）進行直探頭接觸法探傷，探頭的*大直徑為28mm。必要時要使用其它行之有效的方法（如變換探測頻率、探頭規(guī)格、增加探傷面等）進行檢查。
1.2 從事葉輪鍛件超聲探傷的人員應持有有關(guān)部門頒發(fā)的相應資格的證書，并能正確理解和使用本標準。
2一般要求
2.1 需探傷的葉輪鍛件，其外形應盡可能加工成簡單的扁圓形狀，避免出現(xiàn)妨礙探傷工作的錐體，溝槽等幾何形狀，表面粗糙度Ra應不大于6.3μm，并且沒有劃傷，機加工留下的細屑、油漆或其它外來粘附物。
2.2 鍛造廠為反映出廠質(zhì)量而作的超聲探傷，應安排在*終熱處理之后進行。此時，鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)應不大于每米4dB。
2.3 材質(zhì)衰減系數(shù)的測定，應在無缺陷信號的部位用2~2.5MHz的探測頻率進行。
2.4 鍛件交貨前未能進行探傷的部位，交貨后可由訂貨廠補作探傷，其探傷結(jié)果也同樣是評定鍛件質(zhì)量的依據(jù)。
3設(shè)備要求
3.1 用于葉輪鍛件探傷的探傷儀，應至少具有1.25、2.5、5MHz三種頻率，或者數(shù)值相近的其它探測頻率。
3.2 探傷儀應備有數(shù)值可按1dB或2dB間隔進行全量程調(diào)節(jié)*大衰減量不低于50dB的衰減器。衰減器的精度應在任意12dB中誤差不大于±1dB。
3.3 在用2~2.5MHz，直徑20mm的直探頭探測CS-2型試塊上測距500mm，直徑2mm的平底孔時，探傷裝置的有效靈敏度余量應在平底孔信號幅度等于示波屏垂直顯示極限75%的情況下，不小于20dB。
3.4 探傷儀的水平線誤差不大于2%，分辨力不小于20dB，*大靈敏度下的盲區(qū)不大于20mm；按ZBY230-84《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件》的規(guī)定測量。
3.5 探頭性能應按ZBY231-84《超聲探傷用探頭性能測試方法》的規(guī)定。
4參考試塊
4.1 在需要使用參考試塊調(diào)節(jié)掃描線比例和探傷靈敏度繪制“距離－幅度”曲線和確定缺陷當量時，應使用CS-2型參考試塊。
CS-2型參考試塊的形狀、尺寸、數(shù)量、材質(zhì)、加工要求等，見本標準的附錄A。
4.2 本標準不限制使用與CS-2型試塊有等效作用的其它試塊。
5探傷靈敏度
5.1 用于葉輪鍛件的探傷靈敏度，應能有效地發(fā)現(xiàn)被檢鍛件中當量直徑等于和大于2mm的缺陷。為便于發(fā)現(xiàn)缺陷，允許在尋找缺陷的掃查中使用高于規(guī)定數(shù)值的靈敏度。但在發(fā)現(xiàn)缺陷之后進行的各項測量工作，則必須在規(guī)定的靈敏度下進行。
5.2 為了調(diào)整探傷靈敏度的需要，應在掃描線上方等于屏高40%~80%的范圍內(nèi)事先選定一個平行于掃描線的基準高度。
5.3 當被探部位的厚度大于探頭的三倍近場區(qū)時，可任意選用底波調(diào)整法或試塊調(diào)整法調(diào)整探傷靈敏度。當被探部位的厚度等于或小于探頭的三倍近場區(qū)時，應采用試塊調(diào)整法。
5.4 底波調(diào)整法
5.4.1 先用能足以顯示材料組織的高靈敏度在鍛件上找出無缺陷的部位。
5.4.2 在符合5.4.1條要求的部位上把底波幅度調(diào)到等于基準高度。
5.4.3 根據(jù)被探部位的厚度提高探傷儀增益至規(guī)定數(shù)值，該數(shù)值可用下式求得：
M=(2λT)/(πd2)
式中：M－需提高的增益倍數(shù)；T－被探部位的厚度，mm；
d－平底孔直徑，mm(此處d等于2mm)；λ－波長，mm；π－圓周率，即3.14159。
5.5 試塊調(diào)整法
5.5.1 使用CS-2型參考試塊或具有等效作用的其它試塊上測距等于或近于鍛件厚度，直徑2mm的平底孔進行調(diào)整。
5.5.2 把符合5.5.1條要求的平底孔信號幅度調(diào)至等于基準高度。
6掃描線的比例調(diào)節(jié)
在調(diào)節(jié)掃描線的比例時，應使**次底波的前沿位置不超過示波屏水平顯示極限的80%，以利觀察一次底波之后的某些信號情況。
7掃查要求
7.1 探頭在被探部位的移動速度應不大于150mm/s，相鄰兩次掃查之間應有一定的重疊，重疊寬度不小于掃查寬度的15%。
7.2 如果遇到底波信號或其它非缺陷信號（如探頭反射信號、遲到波信號等）發(fā)生明顯降低或消失時，應及時查明發(fā)生此種情況的原因。
8缺陷信號的分類
8.1 密集缺陷信號：在邊長50mm的立方體內(nèi)，數(shù)量不少于5個，當量直徑不小于2mm的缺陷信號。
8.2 分散缺陷信號：在邊長50mm的立方體內(nèi)，數(shù)量少于5個，當量直徑不小于2mm的缺陷。
8.3 單個缺陷信號：間距大于50mm、當量直徑不小于2mm的缺陷信號。
8.4 連續(xù)缺陷信號：某個測距上當量直徑不小于2mm，幅度波動范圍能在探頭持續(xù)移動距離等于或大于30mm的區(qū)間內(nèi)不大于2dB的缺陷信號。
9缺陷的測量與記錄
9.1 探傷中遇到缺陷信號之后，應根據(jù)缺陷信號的類型采用不同的方法對缺陷進行測量。
9.2 當遇到單個或分散缺陷信號時應進行的測量工作：
a. 缺陷的當量直徑；b. 缺陷在鍛件上的位置。
9.3 當遇到密集缺陷信號時應進行的測量工作：
a. 缺陷的深度分布范圍（根據(jù)缺陷信號前沿在掃描線上的位置進行測量）；
b. 缺陷的平面分布范圍（根據(jù)探頭中心聲束掃查到缺陷的移動范圍進行測量）；
c. 缺陷的*大當量直徑；d. 缺陷密集區(qū)在鍛件上的位置。
9.4 當遇到連續(xù)缺陷信號時應進行的測量工作：
a. 缺陷的指示長度和垂直于指示長度的缺陷寬度（用半波高度測長法進行測量）；
b. 缺陷的*大當量直徑；c. 缺陷在鍛件上的位置。
9.5 在測量缺陷當量直徑時，必須根據(jù)平底孔的“距離－幅度”關(guān)系對距離進行修正。
9.6 在由缺陷引起底波明顯降低的部位，應對底波的降低程度及明顯降低的區(qū)域進行測量。
9.7 在需要判定缺陷性質(zhì)時，應根據(jù)缺陷的尺寸（當量、長度、寬度等），數(shù)量、形狀、方位、分布狀況，信號的靜態(tài)和動態(tài)特徵、鍛件材料的特性、冶煉、鍛造、熱處理等工藝因素綜合分析，給出參考意見。必要時還應采用其它檢驗方法協(xié)同驗證。
9.8 凡按9.2~9.7條要求測量和制定的結(jié)果都應記錄。
表A1 CS-2型參考試塊尺寸和外型
序號 | 試塊編號 | 孔徑d(mm) | 測距L1(mm) | 高度L2(mm) | 外徑D(mm) | 參考圖 |
1 | 25/0 | 0 | 25 | 25 | ≥35 | a |
2 | 25/2 | 2 | 25 | 50 | ≥35 | b |
3 | 25/3 | 3 | 25 | 50 | ≥35 | b |
4 | 25/4 | 4 | 25 | 50 | ≥35 | b |
5 | 25/6 | 6 | 25 | 50 | ≥35 | b |
6 | 25/8 | 8 | 25 | 50 | ≥35 | b |
7 | 50/0 | 0 | 50 | 50 | ≥50 | a |
8 | 50/2 | 2 | 50 | 75 | ≥50 | b |
9 | 50/3 | 3 | 50 | 75 | ≥50 | b |
10 | 50/4 | 4 | 50 | 75 | ≥50 | b |
11 | 50/6 | 6 | 50 | 75 | ≥50 | b |
12 | 50/8 | 8 | 50 | 75 | ≥50 | b |
13 | 75/0 | 0 | 75 | 75 | ≥60 | a |
14 | 75/2 | 2 | 75 | 100 | ≥60 | b |
15 | 75/3 | 3 | 75 | 100 | ≥60 | b |
16 | 75/4 | 4 | 75 | 100 | ≥60 | b |
17 | 75/6 | 6 | 75 | 100 | ≥60 | b |
18 | 75/8 | 8 | 75 | 100 | ≥60 | b |
19 | 100/0 | 0 | 100 | 100 | ≥70 | a |
20 | 100/2 | 2 | 100 | 125 | ≥70 | b |
21 | 100/3 | 3 | 100 | 125 | ≥70 | b |
22 | 100/4 | 4 | 100 | 125 | ≥70 | b |
23 | 100/6 | 6 | 100 | 125 | ≥70 | b |
24 | 100/8 | 8 | 100 | 125 | ≥70 | b |
25 | 125/0 | 0 | 125 | 125 | ≥80 | a |
26 | 125/2 | 2 | 125 | 150 | ≥80 | b |
27 | 125/3 | 3 | 125 | 150 | ≥80 | b |
28 | 125/4 | 4 | 125 | 150 | ≥80 | b |
29 | 125/6 | 6 | 125 | 150 | ≥80 | b |
30 | 125/8 | 8 | 125 | 150 | ≥80 | b |
31 | 150/0 | 0 | 150 | 150 | ≥85 | a |
32 | 150/2 | 2 | 150 | 175 | ≥85 | b |
33 | 150/3 | 3 | 150 | 175 | ≥85 | b |
34 | 150/4 | 4 | 150 | 175 | ≥85 | b |
35 | 150/6 | 6 | 150 | 175 | ≥85 | b |
36 | 150/8 | 8 | 150 | 175 | ≥85 | b |
37 | 200/0 | 0 | 200 | 200 | ≥100 | a |
38 | 200/2 | 2 | 200 | 225 | ≥100 | b |
39 | 200/3 | 3 | 200 | 225 | ≥100 | b |
40 | 200/4 | 4 | 200 | 225 | ≥100 | b |
41 | 200/6 | 6 | 200 | 225 | ≥100 | b |
42 | 200/8 | 8 | 200 | 225 | ≥100 | b |
43 | 250/0 | 0 | 250 | 250 | ≥110 | a |
44 | 250/2 | 2 | 250 | 275 | ≥110 | b |
45 | 250/3 | 3 | 250 | 275 | ≥110 | b |
46 | 250/4 | 4 | 250 | 275 | ≥110 | b |
47 | 250/6 | 6 | 250 | 275 | ≥110 | b |
48 | 250/8 | 8 | 250 | 275 | ≥110 | b |
49 | 300/0 | 0 | 300 | 300 | ≥120 | a |
50 | 300/2 | 2 | 300 | 325 | ≥120 | b |
51 | 300/3 | 3 | 300 | 325 | ≥120 | b |
52 | 300/4 | 4 | 300 | 325 | ≥120 | b |
53 | 300/6 | 6 | 300 | 325 | ≥120 | b |
54 | 300/8 | 8 | 300 | 325 | ≥120 | b |
55 | 400/0 | 0 | 400 | 400 | ≥140 | a |
56 | 400/2 | 2 | 400 | 425 | ≥140 | b |
57 | 400/3 | 3 | 400 | 425 | ≥140 | b |
58 | 400/4 | 4 | 400 | 425 | ≥140 | b |
59 | 400/6 | 6 | 400 | 425 | ≥140 | b |
60 | 400/8 | 8 | 400 | 425 | ≥140 | b |
61 | 500/0 | 0 | 500 | 500 | ≥155 | a |
62 | 500/2 | 2 | 500 | 525 | ≥155 | b |
63 | 500/3 | 3 | 500 | 525 | ≥155 | b |
64 | 500/4 | 4 | 500 | 525 | ≥155 | b |
65 | 500/6 | 6 | 500 | 525 | ≥155 | b |
66 | 500/8 | 8 | 500 | 525 | ≥155 | b |
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10 探傷報告
10.1 探傷完畢后，應書寫探傷報告。
10.2 探傷報告應包括下列內(nèi)容：
a. 鍛件名稱、圖號、材料、尺寸簡圖、熱處理狀態(tài)；
b. 鍛件編號、爐號、產(chǎn)品命令號（或工作號）；
c. 委托單位、委托日期、委托編號；
d. 探傷條件；
e.9.8條中規(guī)定記錄的內(nèi)容以及缺陷分布圖（展開圖）；
f. 未探傷的部位及其原因；g. 有參考價值的波形圖；
h. 有必要說明的情況；i. 探傷日期、探傷者的資格證號、探傷者和審核者的簽名。
附錄A
CS-2型參考試塊及其技術(shù)要求
(補充件)
A1CS-2型參考試塊為平面型試塊，由兩種試塊組成。一種是沒有平底孔的大平底試塊，另一種是底部有直徑2~8mm平底孔的試塊。
A2 試塊總數(shù)66塊，其中大平底試塊11塊，平底孔試塊55塊。
A3 采用電爐或平爐熔煉的45碳鋼鋼錠，經(jīng)鍛壓和正火處理后進行加工（鍛壓比不小于3）。
A4 用5MHz、直徑1.6mm平底孔信號幅度等于屏高80%的靈敏度探測試塊時，示波屏上應當不出現(xiàn)缺陷信號、信噪比不小于6dB，試塊中心軸線上的材質(zhì)衰減系數(shù)不大于每米4dB。
A5 試塊外形及各部分尺寸見表A1。
附加說明：
本標準由上海材料研究所提出。
本標準由上海材料研究所負責起草。
本標準主要起草人：徐立賢
機械工業(yè)部1985-02-18發(fā)布 1985-12-01實施
