+ 返回首頁   + 加入收藏   + 聯(lián)系我們
產(chǎn)品搜索

產(chǎn)品目錄
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
聯(lián)系我們

JB 1581—85 汽輪機(jī)、汽輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子和主軸鍛件超聲探傷方法

                    中華人民共和國機(jī)械工業(yè)部部標(biāo)準(zhǔn)

JB 158185   代替JB158175

              汽輪機(jī)、汽輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子和主軸鍛件超聲探傷方法

    本標(biāo)準(zhǔn)適用于JB126572《電站汽輪機(jī)和船用汽輪機(jī)主軸、整體轉(zhuǎn)子鍛件技術(shù)條件》以及JB 126772《汽輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子鍛件技術(shù)條件》中各類轉(zhuǎn)子和主軸鍛件的超聲探傷。其它軸類鍛件可參考使用。

1應(yīng)用前提

1.1 本標(biāo)準(zhǔn)采用2~2.5MHz的探測頻率,按照脈沖反射式原理,在轉(zhuǎn)子和主軸鍛件的外圓表面用直探頭進(jìn)行接觸法探傷,探頭的更大直徑為28mm。必要時可使用其它行之有效的方法(如變換探測頻率、探頭規(guī)格、增加探傷面等)進(jìn)行檢查。

1.2 從事轉(zhuǎn)子和主軸鍛件超聲探傷的人員應(yīng)持有有關(guān)部門頒發(fā)的相應(yīng)資格的證書,并能正確理解和使用本標(biāo)準(zhǔn)。

2一般要求

2.16.3 需探傷的轉(zhuǎn)子和主軸鍛件,其外形應(yīng)盡可能加工成簡單的圓柱形狀,避免出現(xiàn)妨礙探傷工作的錐體、溝槽、圓孤形過渡區(qū)等幾何形狀。表面粗糙度Ra應(yīng)不大于6.3μm,并且沒有劃傷、機(jī)加工留下的細(xì)屑、油漆或其它外來粘附物。

2.2 鍛造廠為反映出廠質(zhì)量而作的超聲探傷,一般應(yīng)在*終熱處理之后進(jìn)行,如果必須在*終熱處理之前加工出**、溝槽、錐體等幾何形狀,也允許采用加工這些幾何形狀之前的*后一次探傷結(jié)果作為評定鍛件質(zhì)量的依據(jù)。

2.3 *終熱處理之后為反映出廠質(zhì)量而作的探傷,必須在鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)不大于每米4分貝的情況下進(jìn)行。

2.4 材質(zhì)衰減系數(shù)的測定,應(yīng)在被探部位的端部200~500mm軸向范圍內(nèi)無缺陷信號的圓周面上用2~2.5MHz的探測頻率進(jìn)行。

2.5 鍛件交貨前未能進(jìn)行探傷的部位,交貨后可由訂貨廠補(bǔ)作探傷,其探傷結(jié)果也同樣是評定鍛件質(zhì)量的依據(jù)。

3設(shè)備要求

3.1 用于轉(zhuǎn)子和主軸鍛件探傷的探傷儀,應(yīng)至少具有1.25、2.55MHz三種頻率,或者數(shù)值相近的其它探測頻率。

3.2 探傷儀應(yīng)備有數(shù)值可按1dB2dB間隔進(jìn)行全量程調(diào)節(jié)、*大衰減量不低于50dB的衰減器。衰減器的精度應(yīng)在任意12dB中誤差不大于±1dB。

3.3 在用2~2.5MHz、直徑20mm的直探頭探測CS2型試塊上測距500mm、直徑2mm平底孔時,探傷裝置的有效靈敏度余量應(yīng)在平底孔的信號幅度等于示波屏垂直顯示極限75%的情況下,不小于20dB。

3.4 探傷儀的水平線性誤差應(yīng)不大于2%,垂直線性誤差不大于5%,分辨力應(yīng)不小于20dB,*大靈敏度下的盲區(qū)應(yīng)不大于20mm,按ZBY23084A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件》的規(guī)定測量。

3.5 探頭性能應(yīng)按ZBY23184《超聲探傷用探頭性能測試方法》的規(guī)定。

4參考試塊

4.1 在需要使用參考試塊調(diào)節(jié)掃描線比例和探傷靈敏度、繪制“距離—幅度”曲線和確定缺陷當(dāng)量時,應(yīng)使用CS2型參考試塊。

    CS2型參考試塊的形狀、尺寸、數(shù)量、材質(zhì)、加工要求等見本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A

4.2 本標(biāo)準(zhǔn)不限制使用與CS2型試塊有等效作用的其它試塊。

5探傷靈敏度

5.1 用于轉(zhuǎn)子和主軸鍛件的探傷靈敏度,應(yīng)能有效地發(fā)現(xiàn)被檢鍛件中當(dāng)量直徑等于和大于2mm的缺陷。

    為便于發(fā)現(xiàn)缺陷,允許在尋找缺陷的掃查中使用高于規(guī)定數(shù)值的靈敏度,但在發(fā)現(xiàn)缺陷之后進(jìn)行的各項(xiàng)測定工作,則必須在規(guī)定的靈敏度下進(jìn)行。

5.2 為了調(diào)整探傷靈敏度的需要,應(yīng)在掃描線上方等于屏高40%~80%的范圍內(nèi)事先選定一個平行于掃描線的基準(zhǔn)高度。

5.3 當(dāng)被探部位的厚度大于探頭的三倍近場區(qū)時,可任意選用底波調(diào)整法或試塊調(diào)整法調(diào)整探傷靈敏度;當(dāng)被探部位的厚度等于或小于探頭的三倍近場區(qū)時,應(yīng)采用試塊調(diào)整法。

5.4 底波調(diào)整法

5.4.1 先用能足以顯示材料組織的高靈敏度在鍛件上找出無缺陷的部位。

5.4.2 在符合5.4.1款要求的部位上把底波幅度調(diào)到等于基準(zhǔn)高度。

5.4.3 根據(jù)被探部位的厚度以及底面形狀提高探傷儀增益至規(guī)定數(shù)值(見5.4.4款和5.4.5款)。

5.4.4 探測實(shí)心鍛件時,需提高的增益數(shù)值可用下式求得:

Ma=2λDa/πd2

式中:Ma——需提高的增益倍數(shù);       Da——被探部位的直徑,mm;

       d——平底孔直徑,mm(此處d等于2mm);λ——波長,mm;

       π——圓周率,即3.14159。

5.4.5 探測有中心孔的鍛件時,需提高的增益數(shù)值可用下式求得:

                                               _____

Mr=(2λT/πd2)·√Di/Da

式中:Mr——需提高的增益倍數(shù);      T——被探部位的厚度,mm;

       Da——被探部位的外徑,mm  Di——被探部位的內(nèi)徑,mm

       d——平底孔直徑,mm(此處d等于2mm);λ——波長,mm;

       π——圓周率,即3.14159。

5.5 試塊調(diào)整法

5.5.1 使用CS2型參考試塊或具有等效作用的其它試塊上測距等于或近于鍛件厚度、直徑2mm的平底孔進(jìn)行調(diào)整。

5.5.2 把符合5.5.1款要求的平底孔信號幅度調(diào)至等于基準(zhǔn)高度。

5.5.3 根據(jù)被探部位的直徑提高探傷儀的增益至規(guī)定數(shù)值(見5.5.4),用以補(bǔ)償鍛件圓孤面引起的聲能損失。

5.5.4 需提高的增益數(shù)值應(yīng)從CSR型試塊上測得。

    CSR型試塊的形狀、尺寸、數(shù)量、材質(zhì)、加工要求等,見本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B。

6掃描線的比例調(diào)節(jié)

    在調(diào)節(jié)掃描線的比例時,應(yīng)使**次底波的前沿位置不超過示波屏水平極限的80%,以利觀察一次底波之后的某些信號情況。

7掃查要求

7.1 探頭在被探部位的移動速度不大于150mm/s,相鄰兩次掃查之間應(yīng)有一定的重疊,重疊寬度不小于掃查寬度的15%

7.2 在同一個探傷面上,應(yīng)進(jìn)行兩次掃查,并使兩次掃查之間的掃查方向相垂直。

7.3 在掃查過程中不但要注意觀察底波之前有無缺陷信號,而且要注意觀察底波之后有無缺陷信號。

7.4 如果遇到底波信號或其它非缺陷信號(如探頭反射信號、遲到波信號等)發(fā)生明顯降低或消失時,應(yīng)及時查明發(fā)生此種情況的原因。

8缺陷信號的分類

8.1 密集缺陷信號:在邊長50mm的立方體內(nèi),數(shù)量不少于5個,當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷信號。

8.2 分散缺陷信號:在邊長50mm的立方體內(nèi),數(shù)量少于5個,當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷信號。

8.3 單個缺陷信號:間距大于50mm、當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷信號。

8.4 連續(xù)缺陷信號:某個測距上當(dāng)量直徑不小于2mm,幅度波動范圍能在探頭持續(xù)移動距離等于或大于30mm的區(qū)間內(nèi)不大于2dB的缺陷信號。

8.5 游動缺陷信號:探頭在被探部位移動時,信號前沿位置的移動距離相當(dāng)于25mm25mm以上工件厚度的缺陷信號。

9缺陷的測量與記錄

9.1 探傷中遇到缺陷信號之后,應(yīng)根據(jù)缺陷信號的類別采用不同的方法對缺陷進(jìn)行測定。

9.2 當(dāng)遇到單個或分散缺陷信號時應(yīng)進(jìn)行的測量工作:

   a. 缺陷的當(dāng)量直徑;

   b. 缺陷在鍛件上的位置。

9.3 在實(shí)心鍛件上遇到密集缺陷信號時應(yīng)進(jìn)行的測量工作:

   a. 缺陷的深度分布范圍(根據(jù)缺陷信號前沿在掃描線上的位置進(jìn)行測量);

   b. 缺陷的軸向分布范圍(根據(jù)探頭中心聲束掃查到缺陷的移動范圍進(jìn)行測定);

   c. 缺陷的*大當(dāng)量直徑;

   d. 缺陷密集區(qū)在鍛件上的位置。

9.4 在空心鍛件上遇到密集缺陷信號時應(yīng)進(jìn)行的測量工作:

   a. 缺陷的深度分布范圍(根據(jù)缺陷信號前沿在掃描線上的位置進(jìn)行測量);

   b. 缺陷的軸向分布范圍(根據(jù)探頭中心聲束掃查到缺陷的移動范圍進(jìn)行測量);

   c. 缺陷的周向分布范圍(測量方法與9.4b相同,但必須根據(jù)被測部位的曲率對測量值進(jìn)行幾何修正);

   d. 缺陷的*大當(dāng)量直徑;

   e. 缺陷密集區(qū)在鍛件上的位置。

9.5 當(dāng)遇到連續(xù)缺陷信號時應(yīng)進(jìn)行的測量工作:

   a. 缺陷的指示長度和垂直于指示長度的缺陷寬度(用半波高度測長法進(jìn)行測量,沿周向測量時,應(yīng)根椐被測部位的曲率對測量值進(jìn)行幾何修正);

   b. 缺陷的*大當(dāng)量直徑;

   c. 缺陷在鍛件上的位置。

9.6 當(dāng)遇到游動缺陷信號時應(yīng)進(jìn)行的測量工作:

   a. 信號的游動范圍(用相當(dāng)于工件厚度的*小值和*大值兩個數(shù)值表示);

   b. 能探測到缺陷的探頭周向移動范圍(弧長);

   c. 缺陷信號幅度*大處的缺陷當(dāng)量和缺陷位置;

   d. 缺陷的軸向長度(用半波高度測長法進(jìn)行測量);

   e. 缺陷在鍛件上的位置。

9.7 在根據(jù)缺陷信號幅度測量缺陷當(dāng)量直徑時,應(yīng)使用平底孔的“距離—幅度”關(guān)系進(jìn)行修正。

9.8 在由缺陷引起底波明顯降低的部位,應(yīng)對底波的降低程度及明顯降低的區(qū)域進(jìn)行測量。

9.9 對游動距離小于工件厚度25mm的缺陷信號,可用四參數(shù)作圖法估判缺陷的位置和走向。

    注:四參數(shù)作圖法是在能探測缺陷的探頭周向移動范圍內(nèi)建立多個測量點(diǎn),利用各個測量點(diǎn)上測到的缺陷測距、缺陷信號幅度和底波幅度分析缺陷位置、走向以及尺寸的一種作圖方法。

9.10 在需要制定缺陷性質(zhì)時,應(yīng)根據(jù)缺陷的尺寸(當(dāng)量、長度、寬度等),數(shù)量、形狀、方位、分布狀況,信號靜態(tài)和動態(tài)的特征,鍛件材料的特性、冶煉、鍛造、熱處理等工藝因素綜合分析,給出參考意見。必要時還應(yīng)采取其它檢驗(yàn)方法協(xié)同驗(yàn)證。

9.11 凡按9.2~9.10條要求測量和制定的結(jié)果都應(yīng)記錄。

10 探傷報(bào)告

10.1 探傷完畢后應(yīng)書寫探傷報(bào)告。

10.2 探傷報(bào)告應(yīng)包括下列內(nèi)容:

    a. 鍛件名稱、圖號、材料、尺寸簡圖、熱處理狀態(tài);

    b. 鍛件編號、爐號、產(chǎn)品命令號(或工作號);

    c. 委托單位、委托日期、委托編號;

    d. 探傷條件;

    e. 9.11中規(guī)定記錄的內(nèi)容及缺陷分布圖(展開圖);

    f. 未探傷的部位及其原因;

    g. 有參考價值的波形圖;

    h. 有必要說明的情況;

    i. 探傷日期、探傷者的資格證號、探傷者和審核者的簽名。

    A

CS2型參考試塊及其技術(shù)要求

(補(bǔ)充件)

A1CS2型參考試塊為平面型試塊,由兩種試塊組成,一種是沒有平底孔的大平底試塊,另一種是底部有直徑2~8mm平底孔的試塊。

A2 試塊總數(shù)66塊,其中大平底試塊11塊,平底孔試塊55塊。

A3 采用電爐或平爐熔煉的45碳鋼鋼錠,經(jīng)鍛壓和正火處理后進(jìn)行加工(鍛壓比不小于3)。

A4 5MHz、直徑1.6mm平底孔信號幅度等于屏高80%的靈敏度探測試塊時,示波屏上應(yīng)當(dāng)不出現(xiàn)缺陷信號,信噪比不小于6dB,試塊中心軸線上的材質(zhì)衰減系數(shù)不大于每米4dB。

A5 試塊外形及各部分尺寸見表A1。

A1 CS2型參考試塊尺寸及外形

序號

試塊編號

孔徑dmm

測距L1mm

高度L2 mm

外徑Dmm

參考圖

序號

試塊編號

孔徑dmm

測距L1 mm

高度L2mm

外徑Dmm

參考圖

1

25/0

0

25

25

35

a

34

150/4

4

150

175

85

b

2

25/2

2

25

50

35

b

35

150/6

6

150

175

85

b

3

25/3

3

25

50

35

b

36

150/8

8

150

175

85

b

4

25/4

4

25

50

35

b

37

200/0

0

200

200

100

a

5

25/6

6

25

50

35

b

38

200/2

2

200

225

100

b

6

25/8

8

25

50

35

b

39

200/3

3

200

225

100

b

7

50/0

0

50

50

50

a

40

200/4

4

200

225

100

b

8

50/2

2

50

75

50

b

41

200/6

6

200

225

100

b

9

50/3

3

50

75

50

b

42

200/8

8

200

225

100

b

10

50/4

4

50

75

50

b

43

250/0

0

250

250

110

a

11

50/6

6

50

75

50

b

44

250/2

2

250

275

110

b

12

50/8

8

50

75

50

b

45

250/3

3

250

275

110

b

13

75/0

0

75

75

60

a

46

250/4

4

250

275

110

b

14

75/2

2

75

100

60

b

47

250/6

6

250

275

110

b

15

75/3

3

75

100

60

b

48

250/8

8

250

275

110

b

16

75/4

4

75

100

60

b

49

300/0

0

300

300

120

a

17

75/6

6

75

100

60

b

50

300/2

2

300

325

120

b

18

75/8

8

75

100

60

b

51

300/3

3

300

325

120

b

19

100/0

0

100

100

70

a

52

300/4

4

300

325

120

b

20

100/2

2

100

125

70

b

53

300/6

6

300

325

120

b

21

100/3

3

100

125

70

b

54

300/8

8

300

325

120

b

22

100/4

4

100

125

70

b

55

400/0

0

400

400

140

a

23

100/6

6

100

125

70

b

56

400/2

2

400

425

140

b

24

100/8

8

100

125

70

b

57

400/3

3

400

425

140

b

25

125/0

0

125

125

80

a

58

400/4

4

400

425

140

b

26

125/2

2

125

150

80

b

59

400/6

6

400

425

140

b

27

125/3

3

125

150

80

b

60

400/8

8

400

425

140

b

28

125/4

4

125

150

80

b

61

500/0

0

500

500

155

a

29

125/6

6

125

150

80

b

62

500/2

2

500

525

155

b

30

125/8

8

125

150

80

b

63

500/3

3

500

525

155

b

31

150/0

0

150

150

85

a

64

500/4

4

500

525

155

b

32

150/2

2

150

175

85

b

65

500/6

6

500

525

155

b

33

150/3

3

150

150

85

b

66

500/8

8

500

525

155

b

      

 

 

a

 

 

 

 

b

 



 

    B

CSR型參考試塊及其技術(shù)要求

(補(bǔ)充件)

B 1 CSR型參考試塊為大平底試塊,用以測量探測面為凸形圓柱面的鍛件探傷中,因曲率不同而引起的聲能損失。

B 2 試塊總數(shù)14塊,其中1塊的探測面為平面,其余13塊為曲率不同的凸形圓柱面。

B 3 采用電爐或平爐熔煉的45碳鋼鋼錠,經(jīng)鍛壓和正火處理后進(jìn)行加工(鍛壓比不小于3)

B 4 5MHz、直徑1.6mm平底孔信號幅度等于屏高80%的靈敏度探測試塊時,示波屏上應(yīng)當(dāng)不出現(xiàn)缺陷信號,信噪比不小于6dB,試塊中心軸線上的材質(zhì)衰減系數(shù)不大于每米4dB。

B 5 試塊外形及各部份尺寸見表B1。

B1   CSR參考試塊尺寸及外形

序號

試塊編號

探測面R

              

 

 

 

 

1

 

 

 

 

75/0

 

 

 

 

 

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

75/50

75/75

75/100

75/125

75/150

75/200

75/300

75/400

75/500

75/600

75/700

75/750

75/800

50

75

100

125

150

200

300

400

500

600

700

750

800

 



_______________________

附加說明:

本標(biāo)準(zhǔn)由上海材料研究所提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)由上海材料研究所負(fù)責(zé)起草。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:徐立賢

機(jī)械工業(yè)部1985-05-18發(fā)布               1985-12-01實(shí)施

北京總部地址:北京朝陽區(qū)朝陽路71號 電話:010-51650108、82376306  售后服務(wù)電話:18698910848
公司法律顧問: 葉春律師 
京ICP備09057988號-1
 

京公網(wǎng)安備 11010802025974號